فناوری جدید از GeIL

شرکت سازنده حافظه GeIL به تازگی عنوان کرده است که تعداد ماژول‌های حافظه‌ای که به سرعت از بین می‌روند (Early Failure) را به طور چشم‌گیری کاهش خواهد داد.

به‌طور کلی منظور از Early Failure، خرابی و بروز نقص در حافظه و اجزاء الکترونیکی است که زودتر از زمان معمول اتفاق می‌افتد.

GeIL با به کارگیری فناوری جدیدی که Die-hard Burn-in Technology) DBT) نام دارد، ماژول‌های حافظه را قبل از عرضه به بازار مورد آزمایش قرار می‌دهد. در این آزمایش ماژول حافظه در دما و ولتاژ زیاد مورد بررسی قرار می‌گیرد.

بنا بر گفته GeIL انجام آزمایش به مدت 24 ساعت، عمر حافظه را تا مدت‌ها تضمین می‌کند.